LW200-4JTB总放大倍数50X-1250X 金相显微镜
LW200-4JT/B金相显微镜 特点: 除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外,由于符合人的日常习惯,因此更广泛的应用于透明,半透明或不透明物质。大于3 微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板......
LW200-4JT/B金相显微镜 特点: 除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外,由于符合人的日常习惯,因此更广泛的应用于透明,半透明或不透明物质。大于3 微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板......
测试原理 将试样装夹在GB/T10440圆柱形复合罐轴向压溃力试验机夹具的两个夹头之间,两夹头做相对运动,通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器,采集到试验过程中的力值变化和位移变化,从而计算出试样的拉伸、撕裂、变形率等性......